Nguyễn Đức, T.; Mai Tiến, C.; Phạm Văn, K. Đánh Giá độ Tin Cậy an Toàn Chống Trật Bánh Và Mức Cực Trị Chu Kỳ Của Hệ Số Trật Bánh Bằng GEV-Bootstrap Từ Mô Phỏng động Lực Học Ngẫu Hợp Phương Tiện - đường Ray . vn 1781456400, 77, 619-633.